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反射式膜厚測量儀FE-3000
介紹: 可完美對應所有基板上多層膜測量的光干涉膜厚儀。實績很多。高精度,高感度從薄膜到厚膜的廣范圍多層膜分析品牌: 日本 大塚電子型號: FE-3000 -
量子效率測定系統QE-2000
介紹: 量子效率測量系統“QE-2000”是一種測量量子效率(量子產額)的裝置。將試料放置在固定治具上之后, 按照專業軟件的指示操作,可以在短時間內完成試料的測量及解析。品牌: 日本 大塚電子型號: QE-2000