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                    • PR-788寬動態范圍的分光光度計

                      介紹: Photo Research 公司擁有幾十年的光度計生產制造經驗,并推出超靈敏光譜測試系統 - 制冷型號探測器PR-730/735 和 PR-740/745 , PR-788 光譜式光度色度輻射度計。PR-730 和 PR-740, PR-788 覆蓋可見光譜,從 380nm 到 780nm, 而 PR-735 和 PR-745 覆蓋 380nm 到1080nm 可見光到近紅外光譜波段,是針對近紅外輻射度測試的最佳方案。PR-788 具有業界領先的 1000000:1 的動態范圍,它提供了在不必增加外部衰減或改變幾何光學(例如測量場地尺寸)的情況下,即可從黑到全白測試設備輸出的解決案。
                      品牌: 美國 Photo Research
                      型號: PR-788
                    • PR-655 光譜光度/色度/輻射度計

                      介紹: 該設備可實現光譜、亮度、色度、色溫、顯色指數、色差等相關測試,主要應用于顯示發光行業、包裝行業、印刷行業、計量等。
                      品牌: 美國 Photo Research
                      型號: PR-655
                    • PR-670光譜光度/色度/輻射度計

                      介紹: 該設備可實現光譜、亮度、色度、色溫、顯色指數、色差等相關測試,主要應用于顯示發光行業、包裝行業、印刷行業、計量等。
                      品牌: 美國 Photo Research
                      型號: PR-670
                    • PR-680 雙光路光譜光度/色度/輻射度計

                      介紹: 該設備可實現光譜、亮度、色度、色溫、顯色指數、色差等相關測試,主要應用于顯示發光行業、包裝行業、印刷行業、計量等。
                      品牌: 美國 Photo Research
                      型號: PR-680
                    • PR-730/735制冷型分光輻射亮度計

                      介紹: Photo Research 公司擁有幾十年的光度計生產制造經驗,并推出超靈 敏光譜測試系統 - 制冷型號探測器 PR-730/735 和 PR-740/745 , PR- 788 光譜式光度色度輻射度計。PR-730 和 PR-740, PR-788 覆蓋可見光譜,從 380nm 到 780nm, 而 PR-735 和 PR-745 覆蓋 380nm 到 1080nm 可見光到近紅外光譜波段,是針對近紅外輻射度測試的最佳方案。PR-788 具有業界領先的 1000000:1 的動態范圍,它提供了在 不必增加外部衰減或改變幾何光學(例如測量場地尺寸)的情況下, 即可從黑到全白測試設備輸出的解決方案。
                      品牌: 美國 Photo Research
                      型號: PR-730/735
                    • PR-740/745高靈敏度制冷型分光輻射亮度計

                      介紹: Photo Research 公司擁有幾十年的光度計生產制造經驗,并推出超靈敏光譜測試系統 - 制冷型號探測器 PR-730/735 和 PR-740/745 , PR-788 光譜式光度色度輻射度計。PR-730 和 PR-740, PR-788 覆蓋可見光譜,從 380nm 到 780nm, 而 PR-735 和 PR-745 覆蓋 380nm 到1080nm 可見光到近紅外光譜波段,是針對近紅外輻射度測試的最佳方案。PR-788 具有業界領先的 1000000:1 的動態范圍,它提供了在不必增加外部衰減或改變幾何光學(例如測量場地尺寸)的情況下,即可從黑到全白測試設備輸出的解決方案。
                      品牌: 美國 Photo Research
                      型號: PR740/745
                    • SPM600系列半導體參數分析儀

                      介紹: SPM600系列半導體參數分析儀是一款專用于半導體材料光電測試的系統。系統集成高精度光譜掃描、光電流掃描以及光響應速率測試。40um探測光斑,實現百微米級探測器的絕對光譜響應度測量。超高穩定性光源支持長時間的連續測試,是半導體微納器件研究的優選。
                      品牌: Zolix
                      型號: SPM600
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